Исследование структуры металлов
и сплавов
и сплавов
Световая микроскопия
Простой и доступный метод исследования структуры, балла неметаллических включений, размера обезуглероженного слоя и других параметров структуры.
Увеличения х50 - 2000
Темное, светлое поле, поляризация и DIC контраст.
Увеличения х50 - 2000
Темное, светлое поле, поляризация и DIC контраст.
Лазерная конфокальная сканирующая микроскопия
Продвинутый метод исследования структуры, фрактографических особенностей изломов, а также количественных характеристик топографии поверхности различных объектов.
Увеличения: х50 - 20000
Опции: Дифференциально-интерференционный контраст ; оценка геометрических параметров поверхности объекта контроля
Увеличения: х50 - 20000
Опции: Дифференциально-интерференционный контраст ; оценка геометрических параметров поверхности объекта контроля
Электронная микроскопия (ЭМ)
Продвинутый метод исследования структуры, поверхности разрушения, а также их особенностей. Среди методов ЭМ различают СЭМ (Сканирующую электронную микроскопию) и ПЭМ (Просвечивающую электронную микроскопию).
Увеличения СЭМ: х25 - 1 000 000
Увеличения ПЭМ: х2500 - 10 000 000
Опции СЭМ: Элементный анализ:
1. (EDX) Энергодисперсионный спектральный анализ
2. (WDS) Волнодисперсионный рентгеновский спектральный анализ
3. (EBSD) Дифракция обратнорассеянных электронов
4. (SET) Сканирующая электронная микротомография
Увеличения СЭМ: х25 - 1 000 000
Увеличения ПЭМ: х2500 - 10 000 000
Опции СЭМ: Элементный анализ:
1. (EDX) Энергодисперсионный спектральный анализ
2. (WDS) Волнодисперсионный рентгеновский спектральный анализ
3. (EBSD) Дифракция обратнорассеянных электронов
4. (SET) Сканирующая электронная микротомография
Комплексное исследование размеров и состава поверхностных слоев, в том числе и упрочненных
Исследование размеров упрочненных поверхностных слоев проводят с целью контроля качества и фиксации работоспособности технологии.
Оценку глубины слоев проводят, как на изображениях, полученных с помощью световой микроскопии, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Состав слоев, как правило оценивают с помощью энергодисперсионного и рентгеновского волнодисперсионного спектрального анализа, также часто для оценки состава слоев используются методы рентгенофлуоресцентного спектрального анализа.
Оценку глубины слоев проводят, как на изображениях, полученных с помощью световой микроскопии, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Состав слоев, как правило оценивают с помощью энергодисперсионного и рентгеновского волнодисперсионного спектрального анализа, также часто для оценки состава слоев используются методы рентгенофлуоресцентного спектрального анализа.
Исследование размеров структурных элементов, размера и доли частиц, вторых фаз
Исследование размеров зерен проводят с целью контроля качества продукции.
Оценку размеров зеренной структуры проводят, как на изображениях, полученных с помощью световой микроскопии, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Размеры зерен, как правило оценивают с помощью специальных программ для распознавания изображений, в Российской Федерации чаще всего используются программы типа Siams или Thexomet.
Оценку размеров зеренной структуры проводят, как на изображениях, полученных с помощью световой микроскопии, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Размеры зерен, как правило оценивают с помощью специальных программ для распознавания изображений, в Российской Федерации чаще всего используются программы типа Siams или Thexomet.
Исследование структуры прямыми методами и методом реплик на производственной площадке Заказчика
Проводим исследование структуры металлоизделий, конструкций на Вашем объекте с помощью мобильных оптических систем и микроскопов. Работаем компетентно, быстро, конкурентно.
Оставьте свою заявку, мы обязательно свяжемся с вами!
Нажимая на кнопку, вы даёте согласие на обработку персональных данных